Szkolenia Metrologiczne
MSA&SPC – METODY STATYSTYCZNE W BADANIU ZDOLNOŚCI SYSTEMÓW

POMIAROWYCH I STEROWANIU PROCESAMI CEL SZKOLENIA:
Każdy pomiar obarczony jest błędem, ale żeby mieć pewność, że błąd pomiaru ma pomijalnie mały wpływ na wynik i podejmowane decyzje o zgodności/niezgodności z wymaganiami musimy dobrać odpowiednie przyrządy pomiarowe i przeprowadzić analizę systemu pomiarowego (MSA).
Analiza systemu pomiarowego odbywa się w warunkach rzeczywistych, a jej wynik ma bardzo duże znaczenie w przypadku sterowania procesem za pomocą narzędzi SPC. SPC to narzędzie, które służy do sterowania procesem, co jest bardzo istotne w obecnie stosowanym podejściu, do jakości.
Celem szkolenia jest poznanie przez uczestników narzędzi, które umożliwią przeprowadzenie walidacji systemu pomiarowego oraz właściwego interpretowania wskaźników analizy MSA. Uczestnicy przy wykorzystaniu narzędzi MSA nauczą się oceniać wiarygodność systemów pomiarowych oraz identyfikować przyczyny prowadzące do niezdolnego systemu
pomiarowego. W drugim części szkolenia uczestnicy poznają narzędzie umożliwiające sterowanie procesem (SPC). Uczestnicy poznają różne rodzaje kart kontrolno – pomiarowych,
sposób ich projektowania, wypełniania i interpretowania. Dodatkowo poznają wskaźniki zdolności procesu, za pomocą, których można kontrolować i monitorować dany proces.

ZAKRES SZKOLENIA:

1. Podstawy statystyki – miary zmienności
2. Analiza MSA – wstęp.
3. MSA a Kalibracja przyrządów pomiarowych.
4. Źródła zmienność w systemach pomiarowych.
5. Błędy w systemach pomiarowych: dokładność, stabilność, liniowość, powtarzalność, odtwarzalność.
6. Zasada 1 z 10 (rule of thumb), rozdzielczość przyrządu pomiarowego, wskaźnik ndc.
7. Powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), powtarzalność i odtwarzalność (R&R), zmienność całkowita (TV), zmienność własna procesu (PV).
8. Wpływ zdolności systemy pomiarowego (%R&R) na zdolność procesu Cp / Cpk.
9. Dobór próbek do analizy MSA – projektowanie analizy MSA.
10. Współczynniki zdolności systemu pomiarowego Cg / Cgk.
11. Metoda rozstępów „Range Method”.
12. Metoda średnich i rozstępów „Average Range Method”.
13. Metoda detekcji sygnału.
14. Metoda Kappa (metoda tabel krzyżowych).
15. MSA wg VDA5 vs MSA wg AIAG
16. Wstęp do SPC (tradycyjne a nowoczesne podejście do jakości, funkcja start Taguchiego, etapy wrażania SPC).
17. Dokładność pomiarów w SPC.
18. Budowa karty kontrolno – pomiarowej
19. Zdolności procesu Cp/Cpk ; Pp/Ppk ; Cpm/Cpmk.
20. Zdolności dla rozkładów innych niż normalne.
21. Wadliwość.
22. Poziom sigma level (Six-Sigma) a Cp/Cpk (SPC).
23. Zakłócenia w kartach kontrolno – pomiarowych.
24. Karty kontrolno – pomiarowe przy ocenie liczbowej (X-R, X-S, Me-R, IX-MR)
25. Karty kontrolno – pomiarowe przy ocenie alternatywnej p, np, c, u)
    

ĆWICZENIA:

1. Wykorzystanie zasady 1 z 10 (rule of thumb) na etapie wstępnego doboru przyrządu pomiarowego.
2. Wyznaczanie wskaźników Cg i Cgk na wzorcu i „kalibrowanej sztuce produkcyjnej” – warsztaty z użyciem przyrządów pomiarowych i przygotowanych próbek.
3. Wyznaczanie wskaźnika %R&R metodą rozstępów – warsztaty z użyciem przyrządów pomiarowych i przygotowanych próbek.
4. Wyznaczanie wskaźnika %R&R metodą średnich i rozstępów – warsztaty z użyciem przyrządów pomiarowych i przygotowanych próbek.
5. Wyznaczanie wskaźnika %R&R metodą detekcji sygnału – warsztaty z użyciem przyrządów pomiarowych i przygotowanych próbek.
6. Wyznaczanie wskaźnika Kappa metodą tabel krzyżowych – warsztaty z użyciem przyrządów pomiarowych i przygotowanych próbek.
7. Obliczanie i interpretowanie wskaźników zdolności procesu.
8. Projektowanie karty kontrolno – pomiarowej.
9. Identyfikowanie i interpretowanie zakłóceń w procesie (zakłóceń pojawiających się na kartach kontrolno – pomiarowych).
10. Wypełnianie kart kontrolno – pomiarowych.

ADRESACI SZKOLENIA:
Szkolenie jest kierowane do osób odpowiedzialnych za nadzór nad wyposażeniem pomiarowym, pracowników działu jakości, technologów, technologów produkcji, operatorów
maszyn, kontrolerów jakości, inżynierów jakości oraz pracowników z nadzoru produkcji.

TRENER:
Szkolenie poprowadzi mgr inż. metrolog, absolwent Politechniki Wrocławskiej, wiodący auditor Systemu Zarządzania Jakością wg ISO 9001, długoletni pracownik kontroli jakości pełniący funkcję kierowniczą, aktualnie posiadający własne laboratorium wzorcujące.

SZKOLENIA ZAMKNIĘTE:
W tym zakresie organizujemy również szkolenie zamknięte, gdzie terminy, koszt uczestnictwa, miejsce oraz program szkolenia są ustalane indywidualnie z Klientem.

CERTYFIKAT:
Po zakończeniu szkolenia, każdy z Uczestników otrzymuje imienny certyfikat potwierdzający nabyte umiejętności zgodnie z wdrożonymi procedurami ISO 9001:2015.

Zapraszamy na Szkolenie Metrologiczne
MSA&SPC – METODY STATYSTYCZNE W BADANIU ZDOLNOŚCI SYSTEMÓW